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電鍍層厚度測試設(shè)備 自動標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析 - 使用無標(biāo)樣基本參數(shù)計算方法 - 使用標(biāo)樣進(jìn)行多點重復(fù)標(biāo)定 - 標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能
電鍍膜厚測試設(shè)備$n光譜測量功能$n- 定性分析功能 (KLM 標(biāo)記方法)$n- 每個能量/通道元素ROI光標(biāo)$n- 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能$n- 光譜比較顯示功能:兩級顯示/疊加顯示/減法$n- 標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能(強度、能量)
電鍍膜厚測定設(shè)備 數(shù)據(jù)處理功能 - 監(jiān)測統(tǒng)計值: 平均值、 標(biāo)準(zhǔn)偏差、 最大值。 - 最小值、測量范圍,N 編號、 Cp、 Cpk, - 獨立曲線顯示測量結(jié)果。 - 自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件
金屬膜厚檢測機器設(shè)備 XTD系列測厚儀,專業(yè)表面處理檢測解決方案: XTD系列測厚儀,于檢測各種異形件,特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。
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